Periodo de publicación recogido
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Correlation between EOS customer return failure cases and Over Voltage Stress (OVS) test method.
J.L. Lefebvre, C. Gautier, F. Barbier
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 952-957
Fast reliability qualification of SiP products.
C. Regard, C. Gautier, H. Frémont, P. Poirier, M.A. Xiaosong, K.M.B. Jansen
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 958-962
Silicon based system in package: Improvement of passive integration process to avoid TBMS failure.
C. Gautier, S. Ledain, S. Jacqueline, M. Nongaillard, V. Georgel, K. Danilo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1258-1262
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