C. Gautier

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Correlation between EOS customer return failure cases and Over Voltage Stress (OVS) test method.

    J.L. Lefebvre, C. Gautier, F. Barbier

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 952-957

    

  • Fast reliability qualification of SiP products.

    C. Regard, C. Gautier, H. Frémont, P. Poirier, M.A. Xiaosong, K.M.B. Jansen

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 958-962

    

  • Silicon based system in package: Improvement of passive integration process to avoid TBMS failure.

    C. Gautier, S. Ledain, S. Jacqueline, M. Nongaillard, V. Georgel, K. Danilo

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1258-1262

    

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