Periodo de publicación recogido
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Influence of local thermal dissipation on electromigration in an Al thin-film line
Yuan Li, Hsin-Tzu Lee, Masumi Saka
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 178-183
Two algorrithms for random number generation implementated by using arithmetic of limited precision
Tomohiko Uyematsu, Yuan Li
IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 86, Nº 10, 2003, págs. 2542-2551
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