Periodo de publicación recogido
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Ruibin Li, Chaohui He, Wei Chen, Yan Liu, Junlin Li, Xiaoqiang Guo, Shanchao Yang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 98, 2019, págs. 42-48
A novel multiple-stress-based predictive model of LEDs for rapid lifetime estimation
Su-Dan Huang, Lin Zhou, Guang-Zhong Cao, Huai-Yuan Liu, Yi-Min Hu, Gang Jing, Ming-Gao Cao, Wen-Peng Xiao, Yan Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 46-52
Yuwei Zhai, Faguo Liang, Chunsheng Guo, Yan Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 66, 2016, págs. 52-57
The AMS Extension to System Level Design Language - ApecC
Yan Liu, Satoshi Komatsu, Masahiro Fujita
IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 89, Nº 12, 2006, págs. 3397-3407
A Rectification Scheme for RST Invariant Image Watermarking
Yan Liu, Gong Zheng, Jiying Zhao
IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 88, Nº 1, 2005, págs. 314-318
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