M. Nakao

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • High Quality Delay Test Generation Based on Multiple-Thershold Gate-Delay Fault Model

    M. Nakao

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 85, Nº 10, 2002, págs. 1506-1514

    

  • Deterministic Built-in Test with Neighbourhood Pattern Generator

    M. Nakao

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 85, Nº 5, 2002, págs. 874-883

    

  • On Acceleration of Test Points Selection for Scan-Based BIST

    M. Nakao, K. Hatayama, I. Higashi

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº 7, 1998, págs. 668-674

    

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