M. Hashizume

• Artículos de revistas (4)

• Artículos de revistas

  • Test Sequence Generation for Test Time Reduction of IDDQ Testing

    H. Yotsuyanagi, M. Hashizume, T. Tamesada

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 237-543

    

  • Identification and Frequency Estimation of Feedback Bridging Faults Generating Logical Oscillation in CMOS Circuits

    M. Hashizume, H. Yotsuyanagi, T. Tamesada

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 571-579

    

  • IDDQ Test Time Reduction by High Speed Charging of Load Capacitors of CMOS Logic Gates

    M. Hashizume

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 85, Nº 10, 2002, págs. 1534-1541

    

  • CMOS Open Defect Detection by Supply Current Measurement under Time-Variable Electric Field Supply

    M. Hashizume

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 85, Nº 10, 2002, págs. 1542-1550

    

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