H. Yotsuyanagi

• Artículos de revistas (4)

• Artículos de revistas

  • Test Sequence Generation for Test Time Reduction of IDDQ Testing

    H. Yotsuyanagi, M. Hashizume, T. Tamesada

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 237-543

    

  • Identification and Frequency Estimation of Feedback Bridging Faults Generating Logical Oscillation in CMOS Circuits

    M. Hashizume, H. Yotsuyanagi, T. Tamesada

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 571-579

    

  • Test Pattern Generation for CMOS Open Defect Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field

    H. Yotsuyanagi

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 86, Nº 12, 2003, págs. 2666-2673

    

  • Sequential Redundancy Removal Using Test Generation and Multiple Strongly Unreachable States

    H. Yotsuyanagi

    IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 85, Nº 10, 2002, págs. 1605-1608

    

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