Periodo de publicación recogido
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Thermal Stability of W~2N Compound Barrier in W/W~2N/poly-Si Gate Electrode Configuration
A. Noya, M. B. Takeyama
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 86, Nº 11, 2003, pág. 2332
Thermal Stability of ZrN Barrier in W/ZrN/Poly-Si Gate Electrode Configuration
A. Noya, M. B. Takeyama
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 5, 2001, págs. 704-706
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