Periodo de publicación recogido
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Effect of Purge Gas on the Reliability of a 266 nm Continuous-Wave Solid-State Laser
M. Saito, S. Kubota, H. Wada, M. Oka, K. Tatsuki
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 87, Nº 12, 2004, pág. 2186
Analysis of Resonant Frequency of Fast Scanning Micromirror with Vertical Combdrives
O. Solgaard, H. Wada, D. Lee, S. Zappe
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 87, Nº 11, 2004, pág. 2006
Lithography Process for Trench Pattern above Large Cavity to Fabricate Fast Scanning Micromirror
U. Krishnamoorthy, H. Wada, D. Lee, S. Zappe
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 87, Nº 8, 2004, pág. 1395
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