Periodo de publicación recogido
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NBTI: Experimental investigation, physical modelling, circuit aging simulations and verification
C. Schlünder, K. Puschkarsky, G.A. Rott, W. Gustin, H. Reisinger
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 1-10
On the temperature and voltage dependence of short-term negative bias temperature stress.
PH. Hehenberger, P.-J. Wagner, H. Reisinger, T. Grasser
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1013-1017
Linterna a LED: la alta tecnología llega a la linterna
H. Reisinger
Elektor: revista internacional de electrónica y ordenadores, ISSN 0211-397X, Nº 272, 2003, págs. 58-63
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