X.P. Ma

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  • Improvement of reliability for high-ohmic Cr–Si thin film resistors in a heat and humid environment: Removing moisture source by electrocatalytic decomposition of water

    X. Y. Wang, Q. Cheng, X.P. Ma, H. Zhang, M.X. Li, T.N. Chen, G.P. Zhang, J.Q. Shao

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 60, 2016, págs. 101-108

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  • Degradation behavior and mechanism of polymer films for high-ohmic resistor protection in a heat and humid environment

    X. Y. Wang, H. Zhang, X.P. Ma, Q. Cheng, C.G. Li, M.X. Li, T.N. Chen, G.P. Zhang, J.Q. Shao

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 57, 2016, págs. 79-85

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