Periodo de publicación recogido
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El efecto día en los retornos del índice COLCAP analizado con mapas autoorganizados
Juan David Ortiz Sandoval, David René Peña Cuellar, Helbert Eduardo Espitia Cuchango
Ciencia e Ingeniería Neogranadina, ISSN-e 0124-8170, Vol. 26, Nº. 1, 2016
Análisis del efecto-día en el mercado accionario colombiano empleando mapas autoorganizados
David René Peña Cuéllar, Juan David Ortiz Sandoval, Helbert Eduardo Espitia Cuchango
ITECKNE: Innovación e Investigación en Ingeniería, ISSN-e 2339-3483, ISSN 1692-1798, Vol. 12, Nº. 1, 2015, págs. 84-94
Sistema de gestión de las reclamaciones posventa en empresas de construcción
María del Pilar Duque Uribe, Nicolás Arango Toro, Marcela María Morales, Juan David Ortiz Sandoval, Carlos Mario Bernal, Juan Camilo Aldana
Revista EIA, ISSN-e 1794-1237, Vol. 2, Nº. 4, 2005, págs. 67-80
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