Cher Ming Tan

• Artículos de revistas (5)

• Artículos de revistas

  • Editorial

    Asen Asenov, Ulf Schichtmann, Cher Ming Tan, Hei Wong, Xing Zhou

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 2-2

    • Texto completo
    

  • Non-destructive degradation study of copper wire bond for its temperature cycling reliability evaluation

    Marvin Chan, Cher Ming Tan, Kheng Chooi Lee, Chuan Seng Tan

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 56-63

    • Resumen
    • Texto completo
    

  • Copper induced synthesis of graphene using amorphous carbon

    Udit Narula, Cher Ming Tan, Chao Sung Lai

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 87-90

    • Resumen
    • Texto completo
    

  • A review on the humidity reliability of high power white light LEDs

    Preetpal Singh, Cher Ming Tan

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 129-139

    • Resumen
    • Texto completo
    

  • Early degradation of high power packaged LEDs under humid conditions and its recovery — Myth of reliability rejuvenation

    Preetpal Singh, Cher Ming Tan, Liann-Be Chang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 145-153

    • Resumen
    • Texto completo
    

Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.