Periodo de publicación recogido
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A double snapback SCR ESD protection scheme for 28 nm CMOS process
Tao Hu, Shurong Dong, Hao Jin, Hei Wong, Zekun Xu, Xiang Li, Juin J. Liou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 84, 2018, págs. 20-25
Asen Asenov, Ulf Schichtmann, Cher Ming Tan, Hei Wong, Xing Zhou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 2-2
Effects of thermal annealing on the charge localization characteristics of HfO2/Au/HfO2 stack
Xuan Feng, Shurong Dong, Hei Wong, Danqun Yu, K.L. Pey, K. Shubhakar, W.S. Lau
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 78-81
D.Q. Yu, W.S. Lau, Hei Wong, Xuan Feng, Shurong Dong, K.L. Pey
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 95-98
Comparative study of reliability degradation behaviors of LDMOS and LDMOS-SCR ESD protection devices
Zhihui Yu, Hao Jin, Shurong Dong, Hei Wong, Jie Zeng, Weihuai Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 111-114
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