Hao Jin

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  • A double snapback SCR ESD protection scheme for 28 nm CMOS process

    Tao Hu, Shurong Dong, Hao Jin, Hei Wong, Zekun Xu, Xiang Li, Juin J. Liou

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 84, 2018, págs. 20-25

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  • Reliability enhancement of zinc oxide varistors using sputtered silver electrodes

    Hao Jin, Xiao Xu, Yebo Tao, Bin Feng, Demiao Wang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 91-94

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  • Very small snapback silicon-controlled rectifier for electrostatic discharge protection in 28 nm processing

    Weihuai Wang, Hao Jin, Wei Guo, Shurong Dong, Wei Liang, J.J. Liou, Yan Han

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 106-110

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  • Comparative study of reliability degradation behaviors of LDMOS and LDMOS-SCR ESD protection devices

    Zhihui Yu, Hao Jin, Shurong Dong, Hei Wong, Jie Zeng, Weihuai Wang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 111-114

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