Weihuai Wang

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• Artículos de revistas

  • Very small snapback silicon-controlled rectifier for electrostatic discharge protection in 28 nm processing

    Weihuai Wang, Hao Jin, Wei Guo, Shurong Dong, Wei Liang, J.J. Liou, Yan Han

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 106-110

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  • Comparative study of reliability degradation behaviors of LDMOS and LDMOS-SCR ESD protection devices

    Zhihui Yu, Hao Jin, Shurong Dong, Hei Wong, Jie Zeng, Weihuai Wang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 111-114

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