Kalyan Koley

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  • Study of process induced variability of germanium-pTFET in analog and RF domain

    Sayani Ghosh, Kalyan Koley, Chandan K. Sarkar

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 47-54

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  • Impact of temperature on linearity and harmonic distortion characteristics of underlapped FinFET

    Arka Dutta, Kalyan Koley, Samar K. Saha, Chandan K. Sarkar

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 99-105

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