InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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The threshold voltage degradation model of N Channel VDMOSFETs under PBT stress
Xuerong Ye, Kaixin Zhang, Cen Chen, Zhongwei Li, Yue Wang, Guofu Zhai
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-1, 2018, págs. 46-51
A linear-time normalization of one-dimensional quadtrees
Akira Ito, Katsushi Inoue, Yue Wang
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº. 3, 1998, págs. 271-277
Some observations concerning alternating pushdown automata with sublogarithmic space
Jianliang Xu, Katsushi Inoue, Yue Wang
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 80, Nº. 12, 1997, págs. 1221-1226
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