Chengrui Liu

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • A generalized degradation model based on Gaussian process

    Zhihua Wang, Qiong Wu, Xiongjian Zhang, Xinlei Wen, Yongbo Zhang, Chengrui Liu, Huimin Fu

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 85, 2018, págs. 207-214

    • Resumen
    

  • A Wiener process model for accelerated degradation analysis considering measurement errors

    Junxing Li, Zhihua Wang, Xia Liu, Yongbo Zhang, Huimin Fu, Chengrui Liu

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 8-15

    • Resumen
    

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