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Analytical parameter extraction for NBTI reaction diffusion and trapping/detrapping models
YanLing Wang, Xiaojin Li, Jian Qing, Yan Zeng, Yanling Shi, Ao Guo, ShaoJian Hu, Shoumian Chen, Yuhang Zhao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 66, 2016, págs. 10-15
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