Periodo de publicación recogido
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Yan Zeng, Xiaojin Li, YanLing Wang, Yabin Sun, Yanling Shi, Ao Guo, ShaoJian Hu, Shoumian Chen, Yuhang Zhao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 20-26
Analytical parameter extraction for NBTI reaction diffusion and trapping/detrapping models
YanLing Wang, Xiaojin Li, Jian Qing, Yan Zeng, Yanling Shi, Ao Guo, ShaoJian Hu, Shoumian Chen, Yuhang Zhao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 66, 2016, págs. 10-15
Experimental study of bias dependence of pulsed laser-induced single-event transient in SiGe HBT
Yabin Sun, Jun Fu, Yudong Wang, Wei Zhou, Zhihong Liu, Xiaojin Li, Yanling Shi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 41-46
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