Periodo de publicación recogido
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A cost-efficient error-resilient approach to distributed arithmetic for signal processing
Yue Lu, Shengyu Duan, Basel Halak, Tom J Kazmierski
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 93, 2019, págs. 16-21
BTI mitigation by anti-ageing software patterns
Haider Muhi Abbas, Basel Halak, Mark Zwolinski
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 79, 2017, págs. 79-90
The impact of BTI aging on the reliability of level shifters in nano-scale CMOS technology
Basel Halak, Vasileios Tenentes, Daniele Rossi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 67, 2016, págs. 74-81
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