Periodo de publicación recogido
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Towards prognostics and health monitoring: The potential of fault detection by piezoresistive silicon stress sensor
Alicja Palczynska, Alexandru Prisacaru, Przemyslaw Jakub Gromala, Bongtae Han, Dirk Mayer, Tobias Melz
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 74, 2017, págs. 165-172
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