V. Huard

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• Artículos de revistas

  • Enabling robust automotive electronic components in advanced CMOS nodes

    V. Huard, S. Mhira, F. Cacho, A. Bravaix

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 13-24

    • Resumen
    

  • Characterization of Low Drop-Out during ageing and design for yield

    R. Lajmi, F. Cacho, Eric Lauga, S. Bourdel, P. Benech, V. Huard, X. Federspiel

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 92-96

    • Resumen
    

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