Periodo de publicación recogido
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A. Rodríguez Fernández, J. Muñoz-Gorriz, J. Suñé, E. Miranda
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 142-146
Ángel Rodríguez Fernández, C. Cagli, Luca Perniola, J. Suñé, E. Miranda
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 178-183
Modeling of the post-breakdown IG-VG-VD characteristics of La2O3-based MOS transistors
E. Miranda, J. Suñé, T. Kawanago, K. Kakushima, H. Iwai
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices / Héctor García (aut.), Helena Castán Lanaspa (aut.), 2013, ISBN 9781467346665
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