Periodo de publicación recogido
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Investigations on immunity of interfaces between intelligent media processor and DDR3 SDRAM memory
J. Wu, W. Zhu, B. Li, Y. Li, Huai Wang, M. Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 230-235
The total ionizing dose response of a DSOI 4Kb SRAM
B. Li, J. Wu, J. Gao, Y. Kuang, J. Li, X. Zhao, K. Zhao, Z. Han, J. Luo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 714-718
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