Periodo de publicación recogido
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A new multitime programmable non-volatile memory cell using high voltage NMOS
S. Xu, Huai Wang, J. Wu, L. Zheng, J. Diao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 169-172
Investigations on immunity of interfaces between intelligent media processor and DDR3 SDRAM memory
J. Wu, W. Zhu, B. Li, Y. Li, Huai Wang, M. Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 230-235
Modelling of initial fast charge loss mechanism for logic embedded non-volatile memories
J. Wu, C. Li, H. Wang, J. Li, L. Zheng
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 174-177
Investigations on the EFT immunity of microcontrollers with different architectures
J. Wu, B. Li, W. Zhu, H. Wang, L. Zheng
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 708-713
The total ionizing dose response of a DSOI 4Kb SRAM
B. Li, J. Wu, J. Gao, Y. Kuang, J. Li, X. Zhao, K. Zhao, Z. Han, J. Luo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 714-718
Fast NURBS interpolation based on the biarc guide curve.
J. Wu, H. Zhou, X. Tang, J. Chen
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 58, Nº. 5-8, 2012, págs. 597-606
A NURBS interpolation algorithm with continuous feedrate.
J. Wu, H. Zhou, X. Tang, J. Chen
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 59, Nº. 5-8, 2012, págs. 623-632
Key reliability concerns with lead-free connectors.
T. Shibutani, J. Wu, Q. Yu, M. Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 10, 2008, págs. 1613-1627
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