Periodo de publicación recogido
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Poly-Si gate electrodes for AlGaN/GaN HEMT with high reliability and low gate leakage current
J. Chen, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, H. Iwai, K. Kakushima
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 52-55
La2O3 gate dielectrics for AlGaN/GaN HEMT
J. Chen, T. Kawanago, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, H. Iwai, D. Nohata, H. Nohira, K. Kakushima
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 60, 2016, págs. 16-19
Fast NURBS interpolation based on the biarc guide curve.
J. Wu, H. Zhou, X. Tang, J. Chen
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 58, Nº. 5-8, 2012, págs. 597-606
A NURBS interpolation algorithm with continuous feedrate.
J. Wu, H. Zhou, X. Tang, J. Chen
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 59, Nº. 5-8, 2012, págs. 623-632
Effects of an ultrasonically excited TIG arc on CLAM steel weld joints.
X. Chen, Z. Shen, J. Wang, J. Chen, Y. Lei, Q. Huang
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 60, Nº. 5-8, 2012, págs. 537-544
Study of void closure in hot radial forging process using 3D nonlinear finite element analysis.
J. Chen, K. Chandrashekhara, C. Mashimkar, S.N. Lekakh, V.L. Richards
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 62, Nº. 9-12, 2012, págs. 1001-1012
SOA-based remote condition monitoring and fault diagnosis system.
F. Zhao, J. Chen, G. Dong, L. Guo
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 46, Nº. 9-12, 2010, págs. 1191-1200
A multi-domain boundary element formulation for acoustic frequency sensitivity analysis.
H. Cheng, J. Chen, Y.-B. Zhang, C.-X. Bi, Y. Gao
Engineering analysis with boundary elements, ISSN 0955-7997, Vol. 33, Nº. 6, 2009, págs. 815-821
An experimental study on the grinding of alumina with a monolayer brazed diamond wheel.
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 41, Nº. 1-2, 2009, págs. 16-23
Grey forecasting run-to-run control system in copper chemical mechanical polishing.
G.-J. Wang, M.-T. Wang, F.-C. Yang, M.-L. Huang, K.-N. Loh, J. Chen
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 41, Nº. 1-2, 2009, págs. 48-56
Towards elastic anisotropy and strain-induced void formation in Cu�Sn crystalline phases.
J. Chen, Y.-S. Lai
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 3, 2009, págs. 264-268
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 36, Nº. 5-6, 2008, págs. 442-450
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 36, Nº. 1-2, 2008, págs. 43-52
J. Chen, E.D. Kirby, J.A. Zellmer
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 38, Nº. 3-4, 2008, págs. 205-217
Sediment transport in a stratified estuary.
K. Pickens, M. Carro-Donna, J. Chen, W. Lick
Métodos numéricos en ingeniería y ciencias aplicadas.: actas del Congreso Internacional sobre Métodos Numéricos en Ingeniería y Ciencias Aplicadas celebrado en la Universidad de Concepción, Chile, del 16 al 20 de noviembre de 1992. / coord. por H. Alder, J. C. Heinrich, Sergio Lavanchy Merino, Eugenio Oñate Ibáñez de Navarra, Benjamín Suárez Arroyo, Vol. 2, 1992, ISBN 84-87867-16-2, págs. 663-671
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