Periodo de publicación recogido
|
|
|
An improved reliability model for Si and GaN power FET
Gady Golan, Moshe Azoulay, Tsuriel Avraham, Ilan Kremenetsky, Joseph B. Bernstein
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 77-89
Reliability prediction with MTOL
Joseph B. Bernstein, Alain Bensoussan, Emmanuel Bender
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 68, 2017, págs. 91-97
Assessment of acceleration models used for BGA solder joint reliability studies.
L. Yang, Joseph B. Bernstein, T. Koschmieder
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1546-1554
Failure rate estimation of known failure mechanisms of electronic packages.
L. Yang, Joseph B. Bernstein
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1563-1572
Crecimiento universitario: Facultad de Economía y Empresa, Universidad Diego Portales
Joseph B. Bernstein, Mathias Klotz
Summa+, ISSN 0327-9022, Nº. 83, 2006, págs. 104-109
Sólidos de vacío y de luz: Edificios de usos múltiples
Joseph B. Bernstein, Mathias Klotz
Summa+, ISSN 0327-9022, Nº. 72, 2005, págs. 66-69
Facultad de Ciencias de la Salud, Universidad Diego Portales
Joseph B. Bernstein, Mathias Klotz
Summa+, ISSN 0327-9022, Nº. 72, 2005, págs. 70-75
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados