L. Yang

• Artículos de revistas (7)

• Artículos de revistas

  • SiC power MOSFETs performance, robustness and technology maturity

    A. Castellazzi, A. Fayyaz, G. Romano, L. Yang, M. Riccio, A. Irace

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 164-176

    • Resumen
    • Texto completo
    

  • A new history-independent modeling approach for feature-based design.

    L. Yang, S.K. Ong, A.Y.C. Nee

    International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 59, Nº. 9-12, 2012, págs. 841-858

    

  • Dynamic analysis on laser forming of square metal sheet to spherical dome.

    L. Yang, M. Wang, Y. Wang, Y. Chen

    International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 51, Nº. 5-8, 2010, págs. 519-540

    

  • Distributive equations of implications based on nilpotent triangular norms

    F. Qin, L. Yang

    International journal of approximate reasoning, ISSN 0888-613X, Vol. 51, Nº 8, 2010, págs. 984-992

    

  • Performance Evaluation of Direct Heuristic Dynamic Programming using Control-Theoretic Measures.

    L. Yang, J. Si, K.S. Tsakalis, A.A. Rodriguez

    Journal of intelligent & robotic systems: Theory & applications, ISSN 0921-0296, Vol. 55, Nº. 2-3, 2009, págs. 177-202

    

  • Assessment of acceleration models used for BGA solder joint reliability studies.

    L. Yang, Joseph B. Bernstein, T. Koschmieder

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1546-1554

    

  • Failure rate estimation of known failure mechanisms of electronic packages.

    L. Yang, Joseph B. Bernstein

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1563-1572

    

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