Periodo de publicación recogido
|
|
|
P. Rajaguru, H. Lu, C. Bailey, A. Castellazzi, V. Pathirana, N. Udugampola, F. Udrea
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 146-156
P. Cova, A.M. Aliyu, A. Castellazzi, D. Chiozzi, N. Delmonte, Philippe Lasserre, N. Pignoloni
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 277-281
SiC power MOSFETs performance, robustness and technology maturity
A. Castellazzi, A. Fayyaz, G. Romano, L. Yang, M. Riccio, A. Irace
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 164-176
Reliability considerations in pulsed power resonant conversion.
F. Carastro, A. Castellazzi, J.C. Clare, M. Johnson, M. Bland, P.W. Wheeler
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1352-1357
Novel simulation approach for transient analysis and reliable thermal management of power devices.
A. Castellazzi, M. Ciappa
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1500-1504
P. Solomalala, Joaquim Saiz Alcaine, M. Mermet-Guyennet, A. Castellazzi, M. Ciappa, X. Chauffleur, J.P. Fradin
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1343-1348
Robustness test and failure analysis of IGBT modules during turn-off.
Jesús Roberto Urresti Ibáñez, A. Castellazzi, M. Piton, J. Rebollo, M. Mermet-Guyennet, M. Ciappa
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1725-1729
X. Perpiñà, A. Castellazzi, M. Piton, M. Mermet-Guyennet, J. Millán
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1784-1789
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados