Periodo de publicación recogido
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IGBT module failure analysis in railway applications.
X. Perpiñà, J.F. Serviere, X. Jordà, A. Fauquet, Salvador Hidalgo Villena, Jesús Roberto Urresti Ibáñez, J. Rebollo, M. Mermet-Guyennet
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1427-1431
Robustness test and failure analysis of IGBT modules during turn-off.
Jesús Roberto Urresti Ibáñez, A. Castellazzi, M. Piton, J. Rebollo, M. Mermet-Guyennet, M. Ciappa
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1725-1729
Non-uniform temperature and heat generation in thin-film SOI LDMOS with uniform drift doping
S. Richter, J. Rebollo, I. Cortés, Salvador Hidalgo Villena, J. Roig, D. Flores, Jesús Roberto Urresti Ibáñez
IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 153, Nº 1, 2006, págs. 82-87
Jesús Roberto Urresti Ibáñez
Tesis doctoral dirigida por Salvador Hidalgo Villena (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2008).
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