Periodo de publicación recogido
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IGBT module failure analysis in railway applications.
X. Perpiñà, J.F. Serviere, X. Jordà, A. Fauquet, Salvador Hidalgo Villena, Jesús Roberto Urresti Ibáñez, J. Rebollo, M. Mermet-Guyennet
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1427-1431
Analysis of punch-through breakdown in bulk silicon RF power LDMOS transistors.
I. Cortés, P. Fernández-Martínez, D. Flores, Salvador Hidalgo Villena, J. Rebollo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 2, 2008, págs. 173-180
Robustness test and failure analysis of IGBT modules during turn-off.
Jesús Roberto Urresti Ibáñez, A. Castellazzi, M. Piton, J. Rebollo, M. Mermet-Guyennet, M. Ciappa
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1725-1729
Junta de pavimentos de hormigón JRI
J. Rebollo, J.R. Vázquez Díaz
Quaderns d'estructures: Dijous a l'ACE, Nº. 19, 2005, págs. 25-35
Sistema de extracción de conductividad térmica para simulación de módulos de potencia
F. Madrid, X. Jordà, Philippe Godignon, M. Vellvehi, J. Rebollo
SAAEI'02: IX Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación, Universidad de Alcalá, Alcalá de Henares, 18, 19 y 20 de septiembre de 2002 / coord. por Manuel Ramón Mazo Quintas, Vol. 1, 2002, ISBN 9788481385137, págs. 307-310
Comportamiento dinámico de estructuras IGBT laterales
M. Vellvehí, X. Jordà, Philippe Godignon, Salvador Hidalgo Villena, J. Fernández, J. Rebollo
SAAEI '98: V Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación, Universidad Pública de Navarra, Pamplona, 15-18 de septiembre de 1998, 1998, ISBN 84-89654-11-5, págs. 269-272
Modelo electrotérmico del transistor VDMOS de potencia para su simulación con SPICE
X. Jordà, D. Flores, Philippe Godignon, M. Vellvehí, J. Rebollo, J. Millán
SAAEI '98: V Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación, Universidad Pública de Navarra, Pamplona, 15-18 de septiembre de 1998, 1998, ISBN 84-89654-11-5, págs. 563-566
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