M. Piton

• Artículos de revistas (5)

• Artículos de revistas

  • Revisiting power cycling test for better life-time prediction in traction.

    M. Mermet-Guyennet, X. Perpiñá, M. Piton

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1690-1695

    

  • Local thermal cycles determination in thermosyphon-cooled traction IGBT modules reproducing mission profiles.

    X. Perpiñá, M. Piton, M. Mermet-Guyennet, X. Jordà, J. Millán

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1701-1706

    

  • A study of the threshold-voltage suitability as an application-related reliability indicator for planar-gate non-punch-through IGBTs.

    A. Castellazzi, M. Ciappa, W. Fichtner, M. Piton, M. Mermet-Guyennet

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1713-1718

    

  • Robustness test and failure analysis of IGBT modules during turn-off.

    Jesús Roberto Urresti Ibáñez, A. Castellazzi, M. Piton, J. Rebollo, M. Mermet-Guyennet, M. Ciappa

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1725-1729

    

  • Failure-relevant abnormal events in power inverters considering measured IGBT module temperature inhomogeneities.

    X. Perpiñà, A. Castellazzi, M. Piton, M. Mermet-Guyennet, J. Millán

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1784-1789

    

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