Failure-relevant abnormal events in power inverters considering measured IGBT module temperature inhomogeneities.

• Autores: X. Perpiñà, A. Castellazzi, M. Piton, M. Mermet-Guyennet, J. Millán
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1784-1789
• Idioma: inglés
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