Periodo de publicación recogido
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Reliability of lead-free solder in power module with stochastic uncertainty.
A. Micol, C. Martin, O. Dalverny, M. Mermet-Guyennet, M. Karama
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 6, 2009, págs. 631-641
IGBT module failure analysis in railway applications.
X. Perpiñà, J.F. Serviere, X. Jordà, A. Fauquet, Salvador Hidalgo Villena, Jesús Roberto Urresti Ibáñez, J. Rebollo, M. Mermet-Guyennet
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1427-1431
J.L. Fock-Sui-Too, B. Chauchat, P. Austin, P. Tounsi, M. Mermet-Guyennet, R. Meuret
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1453-1458
P. Solomalala, Joaquim Saiz Alcaine, M. Mermet-Guyennet, A. Castellazzi, M. Ciappa, X. Chauffleur, J.P. Fradin
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1343-1348
Revisiting power cycling test for better life-time prediction in traction.
M. Mermet-Guyennet, X. Perpiñá, M. Piton
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1690-1695
X. Perpiñá, M. Piton, M. Mermet-Guyennet, X. Jordà, J. Millán
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1701-1706
Measurement of the transient junction temperature in MOSFET devices under operating conditions.
D. Barlini, M. Ciappa, M. Mermet-Guyennet, W. Fichtner
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1707-1712
A. Castellazzi, M. Ciappa, W. Fichtner, M. Piton, M. Mermet-Guyennet
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1713-1718
Robustness test and failure analysis of IGBT modules during turn-off.
Jesús Roberto Urresti Ibáñez, A. Castellazzi, M. Piton, J. Rebollo, M. Mermet-Guyennet, M. Ciappa
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1725-1729
T. Lhommeau, X. Perpiñà, C. Martin, R. Meuret, M. Mermet-Guyennet, M. Karama
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1779-1783
X. Perpiñà, A. Castellazzi, M. Piton, M. Mermet-Guyennet, J. Millán
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1784-1789
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