W. Fichtner

• Artículos de revistas (7)

• Artículos de revistas

  • Ensuring the reliability of electron beam crosslinked electric cables by the optimization of the dose depth distribution with Monte Carlo simulation.

    M. Ciappa, L. Mangiacapra, M. Stangoni, S. Ott, W. Fichtner

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 972-976

    

  • Multiscale simulation of aluminum thin films for the design of highly-reliable MEMS devices.

    H. Kubo, M. Ciappa, T. Masunaga, W. Fichtner

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1278-1282

    

  • A new built-in screening methodology to achieve zero defects in the automotive environment.

    V. Malandruccolo, M. Ciappa, H. Rothleiner, W. Fichtner

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1334-1340

    

  • Measurement of the transient junction temperature in MOSFET devices under operating conditions.

    D. Barlini, M. Ciappa, M. Mermet-Guyennet, W. Fichtner

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1707-1712

    

  • A study of the threshold-voltage suitability as an application-related reliability indicator for planar-gate non-punch-through IGBTs.

    A. Castellazzi, M. Ciappa, W. Fichtner, M. Piton, M. Mermet-Guyennet

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1713-1718

    

  • Verification of CDM circuit simulation using an ESD evaluation circuit.

    M. Etherton, J. Willemen, W. Wilkening, N. Qu, S. Mettler, W. Fichtner

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 7, 2007, págs. 1036-1043

    

  • SCR operation mode of diode strings for ESD protection.

    U. Glaser, K. Esmark, M. Streibl, C. Russ, K. Domanski, M. Ciappa, W. Fichtner

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 7, 2007, págs. 1044-1053

    

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