Periodo de publicación recogido
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Low delay Single Error Correction and Double Adjacent Error Correction (SEC-DAEC) codes
Jiaqiang Li, Pedro Reviriego Vasallo, Liyi Xiao, Zhaochi Liu, Linzhe Li, Anees Ullah
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 97, 2019, págs. 31-37
A fast fault injection platform of multiple SEUs for SRAM-based FPGAs
Rongsheng Zhang, Liyi Xiao, Jie Li, Xuebing Cao, Chunhua Qi, Jiaqiang Li, Mingjiang Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 147-152
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