Periodo de publicación recogido
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Analytical model for the transient analysis of electronic assemblies subjected to impact loading
Mohammad A. Gharaibeh, Quang T. Su, James M. Pitarresi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-1, 2018, págs. 112-119
Mohammad A. Gharaibeh
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 84, 2018, págs. 238-247
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