Quang T. Su

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  • Analytical model for the transient analysis of electronic assemblies subjected to impact loading

    Mohammad A. Gharaibeh, Quang T. Su, James M. Pitarresi

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-1, 2018, págs. 112-119

    • Resumen
    

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