Periodo de publicación recogido
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Erping Deng, Zhibin Zhao, Peng Zhang, Jinyuan Liu, Yongzhang Huang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 79, 2017, págs. 248-256
Erping Deng, Zhibin Zhao, Qingming Xin, Jingwei Zhang, Yongzhang Huang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 25-37
Optimization of the thermal contact resistance within press pack IGBTs
Erping Deng, Zhibin Zhao, Peng Zhang, Yongzhang Huang, Jinyuan Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 17-28
Haoliu Yin, Zhibin Zhao, Lin Li, Zhang Bo, Xiang Cui
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 22, Nº 3, 2003, págs. 756-769
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