Periodo de publicación recogido
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A landslide prediction model based on load-unload response ratio theory and its application
Zhen Zhu, Xuchun Wang, Peng Zhang, Manchao He
Revista DYNA, ISSN-e 0012-7361, ISSN 0012-7361, Vol. 94, Nº 3, 2019, págs. 304-312
Erping Deng, Zhibin Zhao, Peng Zhang, Jinyuan Liu, Yongzhang Huang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 79, 2017, págs. 248-256
A comparative study on electrothermal characteristics of nanoscale multiple gate MOSFETs
Qi-Lin Gu, Peng Zhang, Yi Ru, Hao Song, Wen-Sheng Zhao, Wen-Yan Yin
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 362-369
Optimization of the thermal contact resistance within press pack IGBTs
Erping Deng, Zhibin Zhao, Peng Zhang, Yongzhang Huang, Jinyuan Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 17-28
Time dependent modeling of single particle displacement damage in silicon devices
Du Tang, Ignacio Martín, Chaohui He, Hang Zang, Cen Xiong, Yonghong Li, Daxi Guo, Peng Zhang, Jinxin Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 60, 2016, págs. 25-32
Optimal volt/var control in distribution systems
Xizhao Qiu, Peng Zhang, Yutian Liu
International journal of electrical power and energy systems, ISSN 0142-0615, Vol. 24, Nº 4, 2002, págs. 271-276
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