Periodo de publicación recogido
|
|
|
Time dependent modeling of single particle displacement damage in silicon devices
Du Tang, Ignacio Martín, Chaohui He, Hang Zang, Cen Xiong, Yonghong Li, Daxi Guo, Peng Zhang, Jinxin Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 60, 2016, págs. 25-32
Determining Statistical Process Control Baseline Periods in Long Historical Data Streams
Hang Zang, Susan L. Albin, Steven R. Wagner, Daniel A. Nolet, Suhail Gupta
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 42, Nº. 1, 2010, págs. 21-35
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados