Periodo de publicación recogido
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Time dependent modeling of single particle displacement damage in silicon devices
Du Tang, Ignacio Martín, Chaohui He, Hang Zang, Cen Xiong, Yonghong Li, Daxi Guo, Peng Zhang, Jinxin Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 60, 2016, págs. 25-32
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