R. Srinivasan

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Heavy ion impact on narrow band cascoded low noise amplifier

    P. Rajendiran, R. Srinivasan

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-1, 2018, págs. 31-37

    • Resumen
    

  • Phase displacement study in MOSFET based ring VCOs due to heavy-ion irradiation using 3D-TCAD and circuit simulation

    Maran Ponnambalam, N. Vinodhkumar, R. Srinivasan, Premanand Venkatesh Chandramani

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 27-34

    • Resumen
    

  • Performance estimation of M-ary PSK in co-channel interference using fast simulation

    R. Srinivasan, H. Roelofs

    IEE Proceedings: Communications, ISSN 1350-2425, Vol. 150, Nº 5, 2003, págs. 335-340

    

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