Periodo de publicación recogido
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F.P. Pribahsnik, M. Bernardoni, M. Nelhiebel, M. Mataln, A. Lindemann
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 389-392
Exploring the thermal limit of GaN power devices under extreme overload conditions
F.P. Pribahsnik, M. Nelhiebel, M. Mataln, M. Bernardoni, G. Prechtl, F. Altmann, D. Poppitz, A. Lindemann
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 304-308
A. Lindemann
Revue de l' electricite et de l' electronique, ISSN 1265-6534, Nº 2, 2004, págs. 37-44
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