Periodo de publicación recogido
|
|
|
F.P. Pribahsnik, M. Bernardoni, M. Nelhiebel, M. Mataln, A. Lindemann
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 389-392
Exploring the thermal limit of GaN power devices under extreme overload conditions
F.P. Pribahsnik, M. Nelhiebel, M. Mataln, M. Bernardoni, G. Prechtl, F. Altmann, D. Poppitz, A. Lindemann
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 304-308
A simple 1-D finite elements approach to model the effect of PCB in electronic assemblies
D. Chiozzi, M. Bernardoni, N. Delmonte, P. Cova
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 126-132
Heat management for power converters in sealed enclosures: A numerical study.
M. Bernardoni, P. Cova, N. Delmonte, R. Menozzi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1293-1298
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados