R. Menozzi

• Artículos de revistas (5)

• Artículos de revistas

  • Heat management for power converters in sealed enclosures: A numerical study.

    M. Bernardoni, P. Cova, N. Delmonte, R. Menozzi

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1293-1298

    

  • Three-dimensional finite-element thermal simulation of GaN-based HEMTs.

    F. Bertoluzza, N. Delmonte, R. Menozzi

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 5, 2009, págs. 468-473

    

  • Thermal modeling of high frequency DC�DC switching modules: Electromagnetic and thermal simulation of magnetic components.

    P. Cova, N. Delmonte, R. Menozzi

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1468-1472

    

  • Test structures for dielectric spectroscopy of thin films at microwave frequencies.

    N. Delmonte, B.E. Watts, G. Chiorboli, P. Cova, R. Menozzi

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 682-685

    

  • A review of the use of electro-thermal simulations for the analysis of heterostructure FETs.

    G. Sozzi, R. Menozzi

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 65-73

    

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