R. Murphy-Arteaga

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • A review of DC extraction methods for MOSFET series resistance and mobility degradation model parameters

    Adelmo Ortiz-Conde, Andrea Sucre-González, Fabián Zarate Rincón, Reydezel Torres-Torres, R. Murphy-Arteaga, Juin J. Liou, F.J. García-Sánchez

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 1-16

    

  • An Improved Substrate-Loss Model to Determine MOSFET Drain, Source and Substrate Elements

    R. Torres-Torres, R. Murphy-Arteaga

    Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 43, Nº. 2, 2004, págs. 126-130

    

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