Periodo de publicación recogido
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Adelmo Ortiz-Conde, Andrea Sucre-González, Fabián Zarate Rincón, Reydezel Torres-Torres, R. Murphy-Arteaga, Juin J. Liou, F.J. García-Sánchez
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 1-16
Oscar González Díaz, Mónico Linares Aranda, Reydezel Torres-Torres
Revista Científica de Ingeniería Electrónica, Automática y Comunicaciones, ISSN-e 0258-5944, ISSN 1815-5928, Vol. 29, Nº. 2, 2008, págs. 40-48
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