Holding voltage investigation of advanced SCR-based protection structures for CMOS technology.

• Autores: A. Tazzoli, F.A. Marino, M. Cordoni, A. Benvenuti, P. Colombo, E. Zanoni, G. Meneghesso
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1444-1449
• Idioma: inglés
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